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堀田 寛; 新井 英彦
Journal of Chemical Physics, 67(8), p.3608 - 3615, 1977/08
被引用回数:9Febetron706からのパルス電子線の自己集束は、気体によって異なるが、2~100Torrの中間圧域で崩壊する。これは二次電子の急激な倍増による気体の絶縁破壊によるものである。気体の各種性質の文献値から絶縁破壊時間を計算し、それとパルスの立上り時間との比較によって、自己集束崩壊を定量的に解析できることを示す
新井 英彦; 堀田 寛
Radiat.Res., 64(3), p.407 - 415, 1975/03
被引用回数:3Febetron706からのパルス電子線の自己集束性をガス圧の関数として測定した。10Torr以下での低圧でのピンチから求めた全イオン化断面積はガスのモル電子分極に対応している。10~40Torrでのピンチの立上りより、二次電子とガスとの相互作用は次の順であると考えられる。CHCHCHCHCHCHCHCH、そしてCHCHFCHClFCClF。
田中 隆一; 須永 博美; 堀田 寛
Radiat.Res., 63(1), p.14 - 23, 1975/01
被引用回数:10Febetron706からのパルス電子線のアルミニウム・ブルーセロファン積層中でのdepth-dose曲線を、雰囲気のヘリウム圧や積層線量計の位置を変化させて測定した。その結果わかったことは、ヘリウム中では10Torr付近と600Torr付近で電子線は自己集束し、その間の50Torr付近では著しく発散することである。そこで、0.01,10,50,655Torrで詳しく各種位置でのdepth-dose曲線の変化を測定し、各条件での線質の変化を検討した。
堀田 寛; 田中 隆一; 須永 博美; 新井 英彦
Radiat.Res., 63(1), p.24 - 31, 1975/01
被引用回数:6H,D,He,Ne,Ar,Kr,Xe中でFebetron706からのパルス電子線の自己集束性をアルミニウム-ブルーセロファン積層線量計を用いて研究した。その結果、10Torr以下でのピンチの起こる圧から気体の全イオン化断面積が求められた。20Torr以上で再び起るピンチは二次電子の再結合係数と関係していることがわかった。さらに高圧では一次電子線の多重散乱のため発散する。
堀田 寛; 田中 隆一; 新井 英彦
Radiat.Res., 63(1), p.32 - 41, 1975/01
被引用回数:7N,O,NO,CO,SF中でFebetron706からのパルス電子線の自己集束性を研究した。10Torr以下の低圧ピンチの起こる圧から気体の全イオン化断面積が求められる。10~50Torrでのピンチの立上りの様相は二次電子と気体との相互作用、主として電子-イオン再結合反応で説明することができる。150Torr以上での一次電子線の挙動はこの自己集束作用の他に多重散乱を考慮して(+1)M/Aの関数として統一的に説明できる。